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菲希爾X射線熒光測厚儀分析儀的應用
點擊次數:1850 更新時間:2020-06-22
 

由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統,因而應用廣泛:
在電子和半導體產業里,測量觸點上薄金,鉑和鎳層厚度或痕量分析。
在鐘表和珠寶行業或采礦精煉工業中,精確分析貴金屬合金組分。
在質量管控和來料檢驗中,需要確保產品或零部件*材料設計規范。如在太陽能光伏電池產業中,光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業中,則需要測量大批量部件的厚度。
對于電子產品的生產者和采購者,檢驗產品是否符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指令》(RoHS指令)也是十分關鍵的。在玩具工業中,也需要有可靠的有害物質檢測手段。
對于以上測量應用,菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光譜儀都能完美勝任。

典型應用領域:

線路板行業.........................Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等鍍層的測量
電子行業.........................接插件和觸點的鍍層測量electronics industry
裝飾性鍍層.........................Cr/Ni/Cu/ABS
批量生產部件.........................(螺絲和螺母)防腐鍍層測量,如Zn/Fe、ZnNi/Fe
測定電鍍槽中的金屬含量
珠寶和手表行業金和貴金屬分析
測量幾個納米的超薄鍍層,如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。
痕量分析(如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質)
用XAN 150分析諸如Al,Si,P等輕元素
實驗室,測試機構和大學里一般性的材料分析和鍍層厚度測量

 

 
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