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菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 ，Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。
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Fischer（菲希爾）庫倫測厚儀總代理 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構
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德國菲希爾一級代理金屬材料電導率儀 德國菲希爾SIGMASCOPE SMP10是一種緊湊、符合人體工程學的便攜式儀器，具有防震合成外殼、大型背光液晶顯示屏和用戶友好的鍵盤，可直接訪問重要的測量功能。根據DIN EN 2004 - 1和ASTM E 1004使用渦流法進行測量電導率，相敏信號保證了對電導率的非接觸式測量
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德國Fischer金屬渦流電導率儀 一款采用渦流法測量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁，銅和不銹鋼等的電導率的儀器。此外,基于測量電導率,還可得出關于硬度和熱處理的材料強度方面的結論。也可以確定熱損傷和材料疲勞。
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菲希爾膜厚儀代理商fmp10+fgab1.3探頭 DELTASCOPE FMP10 可以測量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。配FGAB1.3探頭量程可達2000μm，適用于電鍍、油漆、涂料等的厚度測量。
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進口鍍鉻厚度檢測儀DUALSCOPE FMP20+FD10 FISCHER儀器可以滿足不同行業中大多數的測量和分析需求。為了取得很好的測量準確度和準確性，在面對不同的測量需求時應選用相對應的測量方法:無論是磁感應法、電渦流法、BETA射線背散射法、庫侖法、微硬度測量法還是X射線熒光法，FISCHER總能為您提供合適的測試技術。
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fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。
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DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數據采集設備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個類似于MP20的手持式儀器中結合了磁感應和渦流兩種方法。
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菲希爾磁感應探頭FGA2H原裝代理 探頭FGA2H適用于電鍍、涂料、油漆層的厚度測量。由于探針較大，也適用于表面比較粗糙的工件。測量鋼或鐵基材料（NC / Fe和NF / Fe）上的非導電和非鐵金屬涂層。 該探頭非常適合測量電鍍金屬和有機涂層厚度。 由于針尖大，探頭也非常適合在粗糙表面上進行測量。
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菲希爾（Fischer）MMS PC2多功能模塊測厚儀 FISCHERSCOPE MMS PC2具有數據采集和測量數據處理能力，是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統。它既可以用來進行手動的樣品來料檢驗，也可以用于過程控制和對產品線進行24小時地監控。
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德國菲希爾測厚儀探頭FTD3.3價格 面對幾乎所有的工業應用，FISCHER 都可以提供合適的探頭。這些都是針對各種不同的測量應用而定制的高精度裝置。經過多年的不斷發展和創新，FISCHER已經設計出了幾百種的探頭，為的就是達到*精度的*佳測量結果。當然，FISCHER還提供全面、專家級的咨詢服務,可以協助您根據任何給定的測量應用選擇合適的探頭。
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MiniTest 725/735/745測厚儀/FN1.5探頭 德國epk（ElektroPhysik）在表面處理行業的無損涂層測厚儀制造上有著超 過60年的悠久傳統。 典型應用于: 鐵基體上的非磁性涂層如油漆、清漆、搪瓷、鍍鉻和鍍鋅; 或者有色金屬上如銅，鋁，壓鑄鋅，黃銅 等的絕緣涂層如油漆、陽極氧化膜層或陶瓷。
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菲希爾小型便攜式鐵素體含量測試儀 FERITSCOPE®根據磁感應方法測量奧氏體和雙相鋼中的鐵素體含量。測量所有可磁化組織的截面，即，除了δ鐵素體之外，還測量例如應變誘發的馬氏體或其他鐵素體相。該儀器適合根據DIN EN ISO 17655進行測量。應用領域為現場測量，例如，奧氏體鍍層以及不銹鋼管，容器，鍋爐或其他由奧氏體或雙相鋼制成的產品中的焊縫。
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DUALSCOPE MP0R/ MP0R-FP袖珍式鍍鋅測厚儀 DUALSCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個集成探頭或一個延長型探頭，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是 可以直接用于現場可靠測量的理想設備。
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MMS Automation涂層厚度/電導率自動化測量 模塊化的測量系統FISCHERSCOPE®MMS®是自動化在線測量涂層厚度和材料測試的正確解決方案。由于接口的標準化，它可以快速集成到質量管理系統和自動化生產過程中。您是選擇在工業機器人用一個探頭測量
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電鍍層測厚儀phascope pmp10/pmp10 duplex PHASCOPE® PMP10主要用于在電鍍和PCB行業中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進行質量控制。無論樣品表面是否平滑，PMP10都可以準確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內銅層的厚度進行測量。
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菲希爾代理FISCHERSCOPE UMP20/40/100 UMP20測量范圍： 0.5 mm - 508 mm，保持模式和凍結模式（可升級） UMP40回波-回波測量模式，按鍵發光和振動， 保持模式，凍結模式和聲速模式（可升級） UMP100彩色顯示實時波形， 數據儲存功能，按鍵發光和振動，保持模式，凍結模式和聲速模式（可升級）
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fmp30膜厚計氧化膜厚度測試儀 德國菲希爾手提式測厚儀可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度：德國Fischer手持式FMP系列儀器是基于磁感應法（DELTACOPE）、電渦流法（ISOSCOPE）和兩用方法（DUALSCOPE），并采用了可更換探頭的設計，非常適用于對涂鍍層進行無損測量。
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菲希爾兩用測厚儀fmp40（Fischer代理） FMP40 FMP20 FM30這些手持式儀器可輕松，快速，無損地測量涂層厚度，并具有所有FISCHER儀器所*的精度。 FMP10至FMP40可以連接70多個探頭。 因此，您甚至可以解決很復雜的測量任務。 測量范圍，真實性和可重復性精度取決于所連接的探頭。 該信息可以在相應的探頭數據表中找到。
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